產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心表面成像分析UHV VT-350/750超高真空變溫變磁場掃描探針顯微鏡
RHK Tech.公司*的模塊化設(shè)計賦予了超高真空變溫變磁場掃描探針顯微鏡系列產(chǎn)品的適應(yīng)性。無論是掃描臺、樣品臺、變溫組件,還是樣品架,他們都可以很容易地進(jìn)行替換和升以滿足您不斷進(jìn)步的科學(xué)研究的需要。與此同時,您也可以根據(jù)自己的科研要求,自行選擇各種SPM組件,隨后RHK Tech.公司的工程師們會以其雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)、*的系統(tǒng)化設(shè)計,為您量身定做提供套性能異的表面分析設(shè)備。
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATIONRHK Tech.公司用其多年來積累的設(shè)計經(jīng)驗,推出了UHV VT-300/700 STM和UHV VT-350/750 AFM/STM等“模塊化”組合式 (Modular)超高真空系列產(chǎn)品。
RHK Tech.公司*的模塊化設(shè)計賦予了該系列產(chǎn)品的適應(yīng)性。無論是掃描臺、樣品臺、變溫組件,還是樣品架,他們都可以很容易地進(jìn)行替換和升以滿足您不斷進(jìn)步的科學(xué)研究的需要。與此同時,您也可以根據(jù)自己的科研要求,自行選擇各種SPM組件,隨后RHK Tech.公司的工程師們會以其雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)、*的系統(tǒng)化設(shè)計,為您量身定做提供套性能異的表面分析設(shè)備。
UHV 350&750系列AFM/STM系統(tǒng) | |
UHV 350系列采用外部氣柱振動隔離系統(tǒng) , 充分用了“Beetle”設(shè)計的點(diǎn)。真空室外設(shè)計了多個面向針尖/樣品接觸面的端口。除了良好的樣品操作視角和內(nèi)部傳輸視角外,該系統(tǒng)還提供了全面的光學(xué)信號輸入接口,為諸如NSOM之類的研究設(shè)備提供了有的條件。位置固定的樣品臺和無磁性源的顯微鏡設(shè)計為SPM/光學(xué)設(shè)備聯(lián)合系統(tǒng)提供了個理想的研究環(huán)境。 | |
UHV 750系列采用內(nèi)部彈簧懸掛暨渦流振動隔離系統(tǒng),它采用穩(wěn)定的“Beetle”設(shè)計,振動隔離通過內(nèi)部的彈簧懸掛和渦流阻尼來實現(xiàn)。UHV 700系列也可以為用戶提供良好的光學(xué)接入端口。彈簧懸掛系統(tǒng)可以很容易被鎖定,便于針尖和樣品的更換。 |
AFM&STM掃描臺結(jié)構(gòu) | |
UHV STM 350和750系列子系統(tǒng)中,高質(zhì)量的低電流成像技術(shù)已經(jīng)建立并發(fā)展了二十多年。靈活的操作模式與低噪音、大帶寬電子控制器件的聯(lián)合,為用戶提供了個*的STM系統(tǒng)。RHK設(shè)計的針尖更換系統(tǒng)可通過簡單的操作而完成新舊針尖的替換,同時也可以原位對針尖進(jìn)行修飾或者加熱。 UHV 350/750 STM掃描臺點(diǎn):低電流成像技術(shù):<1pA at 5kHz bandwidth;高速掃描:3 Frames/Second;異的熱穩(wěn)定性和機(jī)械穩(wěn)定性。 | |
UHV350&750系列的AFM/STM子系統(tǒng)采用了傳統(tǒng)的激光反射型反饋設(shè)計,這會賦予AFM多種操作模式:垂直力、側(cè)向力、非接觸、近場接觸、恒高、CAFM、MFM、同步AFM/STM等各種模式。UHV 350系列包括了標(biāo)準(zhǔn)的商用微懸臂安裝臺和標(biāo)準(zhǔn)的STM針尖安裝臺。針尖和微懸臂易于更換和存放,而更換用的針尖架可對針尖進(jìn)行原位熱處理和離子束修飾。 UHV 350/750 AFM掃描臺點(diǎn):貫通的激光通道,無需任何平面鏡和棱鏡;正交激光與位置敏感探測器對準(zhǔn);真正的摩擦力定量測量。 |
變溫樣品臺 | |
UHV 350/750系列采用的變溫設(shè)計允許在不破環(huán)真空的前提下,進(jìn)行加熱功能和冷卻功能的快速轉(zhuǎn)換。樣品溫度范圍從<25K到>1500K。 | |
樣品加熱方式
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樣品冷卻方式
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