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PRODUCT CLASSIFICATION高精度激光掃描顯微鏡-NESSIE是美國密歇根大學(xué)衍生公司MONSTR Sense Technologies潛心研制。開創(chuàng)性的設(shè)計(jì)使其外形小巧,組件靈活,可適配不同高度的樣品臺(tái)甚至是低溫光學(xué)恒溫器,實(shí)現(xiàn)低溫顯微成像。顯微鏡可處理波長范圍廣,快速光柵式掃描可以在幾秒時(shí)間內(nèi)獲得一個(gè)高光譜圖像。
全共線多功能超快光譜儀-BIGFOOT是美國密歇根大學(xué)衍生公司MONSTR Sense Technologies經(jīng)過多年潛心研制的一款全新超快光譜儀,采用突破性技術(shù),真正實(shí)現(xiàn)了一套設(shè)備、一束激光、多種功能。它不僅兼具共振和非共振超快光譜探測,還可以兼容瞬態(tài)吸收光譜、相干拉曼光譜、多維相干光譜探測。
s-Laue是日本Pulstec公司近期發(fā)布的一款基于圓形全二維面探測器技術(shù)的新一代X射線單晶定向系統(tǒng)。該設(shè)備配備六軸樣品臺(tái),具有功率?。?0KV/1.5mA,因此輻射?。?、操作簡單、測試效率高(典型測試時(shí)間為60秒)等特點(diǎn),可提供臺(tái)式、便攜式(即將發(fā)布,敬請(qǐng)期待)兩種類型設(shè)備,既可滿足實(shí)驗(yàn)室對(duì)小樣品進(jìn)行單晶定向的需求,也可以用于大型零件的現(xiàn)場晶體定向。
2022年10月,美國Quantum Design公司重磅推出AFM/SEM二合一顯微鏡-FusionScope,將SEM和AFM技術(shù)融合在一臺(tái)設(shè)備上。用戶不需要將樣品從一臺(tái)顯微鏡移動(dòng)到另一臺(tái)顯微鏡,也不必使用兩個(gè)不同的操作系統(tǒng)來分析樣品上的同一位置,而是在同一用戶界面內(nèi)、同一位置進(jìn)行互補(bǔ)性綜合測量。
新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡,配備了五種成像和分析模式,把實(shí)驗(yàn)室材料表征研究推向一個(gè)新高度。超快的樣品切換和增強(qiáng)的自動(dòng)化功能使LVEM 25E成為常規(guī)成像應(yīng)用中十分實(shí)用且易用的工具。新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E能從標(biāo)準(zhǔn)制備的樣品中獲得對(duì)比度好、細(xì)節(jié)豐富的圖像,并能在減少染色的情況下獲得同等細(xì)節(jié)水平的圖像。
X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的,至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術(shù)的殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360n,將用X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度推到了個(gè)全新的高度,設(shè)備推出不久便得到業(yè)界好評(píng)
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